目前，各類顯微鏡及顯微技術(shù)都有新的發(fā)展，無論是在光源、光路設(shè)計、多用途附件聯(lián)機(jī)使用等方面都有改進(jìn)。為了提高顯微鏡的使用效果，擴(kuò)大應(yīng)用領(lǐng)域，使傳統(tǒng)的顯微鏡從單純的目視、主觀的定性判斷，向顯示客觀的定量、自動圖像處理方面發(fā)展。它和攝像系統(tǒng)聯(lián)機(jī)組成攝影顯微鏡；和計算機(jī)聯(lián)機(jī)組成顯微圖像分析儀；和分光鏡聯(lián)機(jī)組成顯微鏡分光光度計和圖像儀；和數(shù)碼相機(jī)聯(lián)機(jī)組成數(shù)碼顯微鏡等。因此，顯微鏡的發(fā)展是不可估量的。
　　光學(xué)顯微鏡雖然簡單方便，但是它的分辨率不高。盡管顯微鏡光學(xué)系統(tǒng)的設(shè)計和觀察方法都大大改進(jìn)，提高了觀察的效果和效率。特別是數(shù)碼技術(shù)使影像數(shù)字化，為定量金相分析提供了條件。針對材料研究的多樣化要求顯微鏡各種功能的模塊化設(shè)計為擴(kuò)展顯微鏡的功能提供了一個好的平臺，如電動臺、加熱臺，自動聚焦、物鏡電動化、觀察方式電動化等，為材料科學(xué)研究和產(chǎn)品質(zhì)量控制提供了有利的工具。
　　隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，金相學(xué)在不斷充實新內(nèi)容和擴(kuò)大領(lǐng)域的同時，材料微觀形貌分析測試的儀器處在不斷更新發(fā)展的狀態(tài)，從光學(xué)顯微鏡（0M）發(fā)展到電子顯微鏡（TEM）、掃描電鏡（SEM）、場離子顯微鏡（FTM）和掃描激光聲成像顯微鏡（SPAM）等。至今，電子顯微鏡的點分辨率已優(yōu)于0.3nm，晶格條紋分辨率優(yōu)于0.14nm，尤其是高分辨透射電鏡可了解原子點陣的排列，打開了觀察原子世界的大門。電子顯微鏡的使用，使材料學(xué)科的發(fā)展進(jìn)入了“極微世界”，成為各個領(lǐng)域科學(xué)工作者不可或缺的重要工具之一。